X射線檢測原理

X射線檢測原理

X射線檢測是利用X射線技術觀察、研究和檢驗材料微觀結構、化學組成、表面或內部結構缺陷的實驗技術。如X射線粉末衍射術、X射線熒光譜法、X射線照相術、X射線形貌術等。
(1)x射線的特性 X射線是一種波長很短的電磁波，是一種光子，波長為10~10cm
　　x射線有下列特點：
　　①穿透性 x射線能穿透一般可見光所不能透過的物質。其穿透能力的強弱，與x射線的波長以及被穿透物質的密度和厚度有關。x射線波長愈短，穿透力就愈大;密度愈低，厚度愈薄，則x射線愈易穿透。在實際工作中，通過球管的電壓伏值(kV)的大小來確定x射線的穿透性(即x射線的質)，而以單位時間內通過x射線的電流 (mA)與時間的乘積代表x射線的量。
　　②電離作用 x射線或其它射線(例如γ射線)通過物質被吸收時，可使組成物質的分子分解成為正負離子，稱為電離作用，離子的多少和物質吸收的X射線量成正比。通過空氣或其它物質產生電離作用，利用儀表測量電離的程度就可以計算x射線的量。檢測設備正是由此來實現對零件探傷檢測的。X射線還有其他作用，如感光、熒光作用等。
　　(2)影像形成原理
　　X線影像形成的基本原理，是由于X線的特性和零件的致密度與厚度之差異所致。