工業CT檢測技術介紹

　　
　　
　　CT是“計算機X線斷層攝影機”或“計算機X線斷層攝影術”英文（ComputedTomography;）的簡稱CT，是從1895年倫琴發現X線以來在X線診斷方面的大突破，是近代飛速發展的電子計算機控制技術和X線檢查攝影技術相結合的產物。CT由英國物理學家hounsfield在1971年研制成功，先用于顱腦疾病診斷，后于1976年又擴大到全身檢查，是X線在放射學中的一大革命。
　　
　　工業CT檢測技術是以X射線和γ射線作為輻射源的工業CT，其工作原理就是射線檢測的原理。計算機層析成像技術使用不同的能量波作為輻射源，其工作原理也有所不同。在工業無損檢測中廣泛應用的是透射層析成像技術(ICT),使用的輻射源多為x射線或y射線，包括低能X射線或由加速器產生的高能X射線，常用的γ射線同位素則有192Ir、137Cs和60Co等。
　　
　　主要特點：
　　
　　緊湊型450kV計算機斷層掃描（CT）統計生產過程控制系統；
　　
　　高精度的三維測量和非破壞性檢測任務；
　　
　　顯著減少所需的操作時間，通過一鍵式CT，點擊按鈕及完成檢測和測量的CT功能；
　　
　　高度自動化操控以增加效率；
　　
　　緊湊式設計實現對直徑達500毫米×長度1000毫米的大尺寸樣品進行掃描；
　　
　　花崗巖基座操控平臺，重復精度高，更為的3D測量；
　　
　　穩定可靠，占地面積小，為產線環境而設計；
　　
　　操作快速與符合人體工程學的吊裝工具，樣品重量可達50公斤（110磅）；
　　
　　維護率低，使用成本少。